科研級(jí)X射線衍射儀XRD
簡(jiǎn)要描述:JN-XRD200科研級(jí)X射線衍射儀XRD可以一鍵操作整個(gè)分析過程僅需數(shù)秒便可完成,操作簡(jiǎn)單,即使非技術(shù)人員也可輕松掌握,使用國(guó)標(biāo)樣品進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),在衍射角度測(cè)量范圍內(nèi),全譜范圍內(nèi)所有峰的2θ角度偏差±0.02°之間,展示了優(yōu)異的角度偏差線性度。
產(chǎn)品型號(hào): JN-XRD200
所屬分類:XRD
更新時(shí)間:2023-11-23
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
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儀器種類 | 多晶衍射儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,農(nóng)業(yè),地礦,綜合 |
JN-XRD200科研級(jí)X射線衍射儀XRD產(chǎn)品特點(diǎn)
1、一鍵操作整個(gè)分析過程僅需數(shù)秒便可完成,操作簡(jiǎn)單,即使非技術(shù)人員也可輕松掌握;
2、一鍵即停,給予操作人員充分的靈活性,盡可能地縮短的掃描時(shí)間和提高掃描分辨率;
3、上下推拉門,節(jié)約桌面空間,適合每一臺(tái)辦公桌,有效提高空間利用率;
4、BenchtopXRD? 高穩(wěn)定性、高精度、高效率;
5、分辨率:國(guó)標(biāo)標(biāo)樣LaB6 搭配高性能探測(cè)器高分辨率模式由測(cè)量顯示 FWHM<0.04°2θ
6、線性度:使用國(guó)標(biāo)樣品進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),在衍射角度測(cè)量范圍內(nèi),全譜范圍內(nèi)所有峰的2θ角度偏差±0.02°之間,展示了優(yōu)異的角度偏差線性度。
7、使用山崳酸銀 (Ag-Behenater)進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量結(jié)果可見儀器精準(zhǔn)的低角度性能。
8、一鍵啟動(dòng),只需按檢測(cè)按鈕即可快速進(jìn)行測(cè)試分析,操作簡(jiǎn)單,無需培訓(xùn),即使非技術(shù)人員也可輕松掌握使用方法。
9、設(shè)備配備分析軟件有助于分析測(cè)量、查看數(shù)據(jù)以及轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù),還可以傳輸以及管理,輕松實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)對(duì)接共享。
10、桌面式XRD具有專業(yè)的多重防護(hù)輻射處理,樣品測(cè)量時(shí)射線防護(hù)門自動(dòng)禁止打開,任何情況下都能避免操作人員受到散 射線輻射。
11、支持創(chuàng)建個(gè)人用戶帳戶,允許用戶自由調(diào)整檢測(cè)配置以滿足自身的具體需求,并且可保存配置和批處理編程。
12、采用數(shù)字多道分析技術(shù),無需單色器即可分辨出衍射峰和熒光干擾,提高衍射強(qiáng)度;
13、溫度、流量實(shí)時(shí)監(jiān)控,多重安全保護(hù)設(shè)計(jì),有效提升儀器維護(hù)方式方法,降低儀器維護(hù)成本,延長(zhǎng)儀器使用壽命。
JN-XRD200科研級(jí)X射線衍射儀XRD產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
1、測(cè)角儀:θ/θ立式測(cè)角儀、衍射圓半徑 150mm;
2、2θ角度范圍:-3 ~ +145°;
3、精度:全譜范圍內(nèi)<±0.02°偏差;
4、半峰寬FWHM:<0.04°2θ;
5、儀器對(duì)光:無需對(duì)光;
6、X光管:Cu 或 Co, Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可選配);
7、X射線發(fā)生器:30KV/20mA;
8、X射線管功率:600W;
9、儀器尺寸:580 x 450x 680mm;
10、電源:90-240V 50/60 Hz 0.6KVA;
11、冷卻方式:內(nèi)置水箱冷卻;
12、重量:低于80Kg
13、探測(cè)器:正比計(jì)數(shù)探測(cè)器、SDD探測(cè)器、一維陣列探測(cè)器(可選配);
14、接口:USB
15、最小步寬:0.0001°;
16、角度重現(xiàn):0.0005°;
17、單色器:計(jì)數(shù)端單色器,扣除Kβ熒光X射線,提高P/B比;
18、衍射角線性度:小于 0.02°(標(biāo)準(zhǔn)樣品,全譜圖范圍內(nèi));
19、角度定位速度:1500°/min;
20、最大線性計(jì)數(shù)率:≥5×105 cps(正比)